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产品名称：OPHIR狭缝扫描式小光束轮廓分析仪
产品型号：NanoScan 2s Ge/3.5/1.8
产品厂商：以色列OPHIR
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简单介绍：

该NanoScan狭缝扫描式光束轮廓分析仪通过其锗探测器，精准捕获和分析700nm - 1800nm的波长。该分析仪包括适合于小光束的孔径尺寸、近实时数据捕获率、可选功率测量功能等特征，且可在连续或kHz脉冲模式下工作，非常适合于对IR和NIR激光进行全*分析。

详情介绍：

NanoScan 2s Ge/3.5/1.8狭缝扫描式小光束轮廓分析仪

狭缝扫描式小光束轮廓分析仪：锗探测器，3.5mm孔径，1.8µm狭缝

光束尺寸7µm至~2.3mm

功率级范围为~10nW至~10W

USB 2.0接口

包含NanoScan标准或专业软件

波长700-1800nm

光束尺寸7μm - ~2.3mm

界面USB 2.0

传感器类型锗

兼容的光源CW，脉冲 >25kHz

功率范围~10nW - ~10W

狭缝尺寸1.8微米

孔径大小3.5毫米

扫描头尺寸83mm

遵守CE、UKCA、中国 RoHS

产品型号：

1. NanoScan 2s Si/9/5

2. NanoScan 2s Ge/3.5/1.8

3. NanoScan 2s Ge/9/5

4. NanoScan 2s Pyro/9/5

5. .NanoScan 2s Si/3.5/1.8

使用NanoScan的狭缝扫描式激光光束轮廓分析仪

NanoScan™激光光束轮廓分析仪为您提供前所*有的光束测量体验。狭缝扫描式激光光束轮廓分析仪的优点在于测量光束位置和大小时可获得亚微米精度及NIST可追踪精度。扫描头配置包括硅、锗或热释电版本，可用于广泛的波长和激光功率级范围。NanoScan软件可提供两种版本：标准版和专业版，并且包括广泛的ISO定量测量和M2向导，并能测量激光功率。

NanoScan 狭缝扫描式光斑分析仪可测量连续激光以及KHz重复频率的脉冲激光，其精度及准确度可溯源NIST标准，测量光谱范围覆盖紫外到远红外。狭缝扫描技术使得激光光斑的测量变得更为便捷，即使是高功率的激光光斑或者焦点处光斑也不需要考虑复杂的衰减系统。NanoScan系列有多种探测器可供选择包括硅、锗、热释电等，可覆盖很宽的光谱范围和功率级别，广泛应用各类科研及工业激光的测量。

主要参数：

探测器材质	功率范围	波长范围	孔径大小	狭缝大小	探头尺寸
Silicon 硅	～100nW-～100mW	190nm-1000nm	3.5mm	1.8µm	63mm
			9mm	5µm	63mm
				25µm
			25mm	25µm	100mm
Germanium 锗	～1µW-～100mW	700nm-1800nm	3.5mm	1.8µm	63mm
			9mm	5µm	63mm
				25µm
			25mm	25µm	100mm
Pyroelectric 热释电	100mW-100W	190nm->100µm	9mm	5µm	63mm
				25µm
			20mm	25µm	100mm

主要功能：
1.可测量激光光斑的XY位置，其不确定度小于300nm
2.光斑大小的测量精度可达2%
3.35dB高动态范围
4.可给出高精度的指向稳定性参数
5.可模拟显示2D/3D光斑形貌
5.简单的图形操作软件操作十分便捷
6.可二次开发的动态链接控件为OEM用户的系统集成提供方便

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产品名称：OPHIR狭缝扫描式小光束轮廓分析仪

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